Esto ofrece mejor resolución, mejor SNR, mayor campo de visión utilizable y tiempos de adquisición más cortos. Descubra cómo el fresado FIB ininterrumpido reducirá los daños y los retrabajos, acelerará el tiempo de TEM y aumentará el éxito del primer paso, para que sus equipos de FA, rendimiento y materiales tomen decisiones basadas en datos más rápidas y seguras.
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Diseñado para la preparación de laminillas TEM, tomografía, nanofabricación avanzada y extracción lista para APT extremadamente desafiantes, Crossbeam 750 combina una nueva lente objetivo Gemini 4 SEM, un doble deflector y un generador de escaneo de próxima generación para elevar tanto la calidad de la imagen como la confianza del proceso. Aprenderá cómo una mejor resolución y una mejor relación señal-ruido se traducen en más detalles de la imagen y tiempos de adquisición más cortos, mientras que el rendimiento FIB de bajo kV permite una preparación de laminillas más precisa.
Demostraremos Mill + SEM de alto rango dinámico (HDR), un modo de escaneo SEM/FIB entrelazado que suprime el fondo generado por FIB. El resultado: evaluación final confiable con fresado FIB ininterrumpido y superficies impecables de grado metrológico con el menor daño posible a la muestra.